Imágenes de alta resolución y alto contraste de materiales nextgen (por ejemplo, estructuras catalizadoras, nanotubos, nanopartículas y otras estructuras a nanoescala).
Excelente plataforma adecuada para metrología SEM / STEM a escala subnanométrica.
Configuración rápida del haz de electrones: las condiciones de imagen óptimas están garantizadas por el In-Flight Beam Tracing.
Sistema de detectores múltiples TriBE ™ y TriSE ™ para nanocaracterización de muestras.
Plataforma modular de software intuitiva diseñada para una operación sin esfuerzo independientemente del nivel de habilidad de los usuarios.
https://www.tescan.com/product/sem-for-materials-science-tescan-magna/
