Caracterización sin compromisos de todo tipo de materiales a nanoescala.
Ideal para la caracterización de materiales a bajas energías de haz para una topografía superficial máxima.
Excelente imagen de muestras no conductoras y sensibles al haz.
Configuración totalmente automatizada del haz de electrones: las condiciones óptimas para la obtención de imágenes están garantizadas por el In-Flight Beam Tracing ™
Navegación SEM intuitiva en vivo en la muestra con un aumento tan bajo como 2 × sin la necesidad de una cámara de navegación óptica adicional gracias al diseño Wide Field Optics ™
Diseño único de multidetector integrado que permite la detección de EEB selectiva en ángulo y energía.
Plataforma modular de software intuitiva diseñada para un funcionamiento sin esfuerzo independientemente del nivel de habilidad de los usuarios.
https://www.tescan.com/product/sem-for-materials-science-tescan-clara/
