El microscopio electrónico de barrido (SEM) de cuarta generación de TESCAN MIRA con fuente de emisión de electrones FEG Schottky combina imágenes SEM y análisis de composición elemental en vivo en una sola ventana del software Essence ™ de TESCAN. Esta combinación simplifica significativamente la adquisición de datos morfológicos y elementales de la muestra; lo que convierte a MIRA SEM en una solución analítica eficiente para la inspección de materiales de rutina en laboratorios de control de calidad, análisis de fallas y de investigación.
Plataforma analítica con TESCAN Essence ™ EDS totalmente integrado, que combina de manera eficiente imágenes SEM con análisis de composición elemental en una sola ventana del software Essence ™.
Imágenes óptimas y condiciones analíticas inmediatamente disponibles gracias al exclusivo diseño óptico sin apertura de TESCAN impulsado por In-flight Beam Tracing ™.
Navegación SEM precisa y sin esfuerzo en la muestra con aumentos tan bajos como 2 × sin la necesidad de una cámara de navegación óptica adicional debido al diseño único de Wide Field Optics ™.
Modo SingleVac ™ como característica estándar para observar muestras sensibles al haz y en carga.
Software Essence ™ intuitivo y modular diseñado para un funcionamiento sin esfuerzo independientemente del nivel de experiencia del usuario.
La máxima seguridad de los detectores montados en cámara cuando la platina y la muestra están en movimiento está garantizada con el modelo Essence ™ 3D Collision.
Se encuentran disponibles detectores SE y BSE en columna opcionales, incluida la tecnología de desaceleración del haz para mejorar el rendimiento de las imágenes con voltajes de aceleración más bajos.
Plataforma analítica modular que puede equiparse opcionalmente con la más amplia selección de detectores totalmente integrados (por ejemplo, CL, espectrómetro BSE refrigerado por agua o RAMAN).
https://www.tescan.com/product/sem-for-materials-science-tescan-mira/
